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*AOI视觉检测仪分享立碑元件浮高的产生原因

作者:admin 浏览量:253 来源:本站 时间:2022-05-13 08:30:26

信息摘要:

AOI视觉检测仪分享立碑元件浮高的产生原因

立碑元件浮高(曼哈顿现象)


片式元件在遭受回流焊急速加热情况下发生的翘立,这是因为急热使元件两端存在温差,电极端一边的焊料完全熔融后获得良好的湿润,而另一边的焊料未完全熔融而引起湿润不良,这样促进了元件的翘立。因此,回流焊加热时要从时间要素的角度考虑,使水平方向的加热形成均衡的温度分布,避免回流焊急热的产生。 防止元件翘立的主要因素有以下几点:   

①选择粘接力强的焊料,焊料的印刷精度和元件的贴装精度也需提高;   

②元件的外部电极需要有良好的湿润性和湿润稳定性。推荐:温度40℃以下,湿度70RH以下,进厂元件的使用期不可超过6个月; 

③采用小的焊区宽度尺寸,以减少焊料熔融时对元件端部产生的表面张力。另外可适当减小焊料的印刷厚度,如选用100μm   

④焊接温度管理条件设定也是元件翘立的一个因素。通常的目标是加热要均匀,特别在元件两连接端的焊接圆角形成之前,均衡加热不可出现波动。



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